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簡要描述:冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)、電學(xué)、力學(xué)性能測試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,可實(shí)現(xiàn)從-190~600℃(選型)或RT~1600℃(選型)范圍內(nèi)快速致冷或加熱,進(jìn)行高精度控溫,與其他儀器設(shè)備適配,形成光學(xué)、電學(xué)、力學(xué)等的原位測試系統(tǒng)。
產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
品牌 | 果果儀器 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,電氣 |
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光學(xué)冷熱臺(tái)CH600S可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃(選型)或RT~1600℃(選型)范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制,與其他光學(xué)設(shè)備(如顯微鏡、拉曼光譜等)搭配集成,進(jìn)行變溫原位測試。
超高溫?zé)崤_(tái)可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特性。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)RT~1600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制,與其他光學(xué)設(shè)備(如顯微鏡、拉曼光譜等)搭配集成,進(jìn)行變溫原位測試。
超高溫?zé)崤_(tái)H1600
超高溫?zé)崤_(tái)H1600-1
半導(dǎo)體冷熱臺(tái)采用半導(dǎo)體冷熱控制,配合循環(huán)水散熱,實(shí)現(xiàn)從-25~120℃(選型)的控溫。無需液氮等致冷劑,具有無噪聲、無振動(dòng)等特點(diǎn)??梢詫?shí)現(xiàn)變溫光學(xué)測試,或者選配探針實(shí)現(xiàn)變溫電學(xué)測試。
mini熱臺(tái)是一款針對(duì)樣品變溫測試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,產(chǎn)品尺寸小巧,使用便捷,可進(jìn)行光學(xué)、電學(xué)測試。采用電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)RT ~200℃范圍內(nèi)控溫,與其他光學(xué)、電學(xué)儀器組合搭配,進(jìn)行變溫原位測試。
探針冷熱臺(tái)可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃(選型)或RT~1600℃(選型)范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制,與其他電學(xué)儀表(如電橋、源表、萬用表)搭配集成,進(jìn)行變溫原位測試。
探針冷熱臺(tái)ECH600S
外部調(diào)節(jié)探針臺(tái)A
超高溫探針熱臺(tái)H1000
電控位移探針冷熱臺(tái)(納米級(jí))
高低溫試驗(yàn)箱BCH180是一款針對(duì)樣品變溫測試的環(huán)境箱,同時(shí)滿足光學(xué)、電學(xué)等測試。通過向箱體內(nèi)通入低溫氮?dú)庵吕浜碗娂訜?,?shí)現(xiàn)箱體內(nèi) -120 ~ 180℃ (選型)范圍內(nèi)控溫。與其他光學(xué)、電學(xué)儀器組合搭配,進(jìn)行變溫原位測試。
原位拉伸冷熱臺(tái)采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試,可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合。
原位拉伸冷熱臺(tái)FS500
SEM原位拉伸冷熱臺(tái)是一款在掃描電鏡下研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。原位拉伸模塊可以設(shè)定恒力或恒速方式進(jìn)行拉伸、壓縮,或者按程序段進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~200℃(選型)或RT~ 1500℃(選型)溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試,可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合。
拉伸試驗(yàn)機(jī)冷熱臺(tái)一種安裝在萬能試驗(yàn)機(jī)上研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。 產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃(選型)或RT~ 1500℃(選型)溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試,可選DIC、視頻引伸計(jì)實(shí)現(xiàn)應(yīng)變數(shù)據(jù)的高精度采集。
拉伸機(jī)冷熱臺(tái)A
拉伸機(jī)冷熱臺(tái)B
XRD原位冷熱臺(tái)是一種安裝在X-射線衍射儀上研究樣品變溫X-射線衍射的附件。XRD原位冷熱臺(tái)與各種X-射線衍射儀適配集成產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,提供-190~600℃(選型)或RT~ 1500℃(選型)溫度范圍內(nèi)的氣氛/真空測試環(huán)境。支持在各種X-射線衍射儀(布魯克 、賽默飛 、理學(xué)等)上定制樣品架進(jìn)行適配。
XRD原位透射冷熱臺(tái)
XRD原位電池冷熱臺(tái)
SEM冷熱臺(tái)SCH200
原位電池冷熱臺(tái)針對(duì)電化學(xué)電池研究,設(shè)計(jì)的 多款原位測試裝置。 可實(shí)現(xiàn)原位XRD測試、光學(xué)測試等,同時(shí)可提供變溫環(huán)境(選配)
XRD原位鋰電冷熱臺(tái)
鋰電池原位變溫測試臺(tái)
光學(xué)原位觀測電池冷熱臺(tái)
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