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外部調節探針臺,果果儀器外部調節探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特性。$n產品采用半導體冷熱的方式,實現-25~120℃范圍內精準控制,與其他電學儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。
半導體冷熱臺,探針熱臺 EH600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用電阻加熱的方式,實現RT~600℃范圍內精準控制,與其他電學儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。
探針冷熱臺 ECH600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-190~600℃范圍內精準控制,與其他電學儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。
果果儀器 外部調節探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學測試而設計的產品,可表征材料升溫和降溫階段,其電學性能隨溫度變化的特征。
果果儀器_電控位移探針冷熱臺(納米級)是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征,采用高精度電控探針,達到納米級控制。$n產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-190~600℃(選型)或RT~1200℃(選型)范圍內精準控制,與其他電學儀表(如源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。